ヘテロダインビートプローブ走査プローブ顕微鏡及び
これによってトンネル電流に重畳された微小信号の計測方法

特願2006-000007

　電子スピン系のこまかい状態を調べることを目的として、スピン偏極トンネル電子顕微鏡 （ＳＰ−ＳＴＭ）や近接場光顕微鏡（ＳＮＯＭ）などが開発されている 。
　 本発明は、走査プローブ顕微鏡の信号電流に重畳された微小電流の計測方法を提供する。

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